TH. Skolem ...[et al.]. A. Stoll ...[et al.]. N. Noda ...[et al.]. H. Holleck ...[et al.]. H. Ikegami ...[et al.]. J. Mulzer ...[et al.]. M. Mohri ...[et al.]. M. Ono ...[et al.]. T. sato ...[et al.]. Y. Gomay ...[et al.].