检索
高级检索
书目浏览
中图分类浏览
我的图书馆
新书通报
中图分类查看
精品图书
信息公告
全馆图书催还通知
所有标签
语言:
English
中文
登录
语言:
中文
English
登录
前方一致
模糊检索
精确检索
任意词
题名
正题名
ISBN/ISSN
著者
主题词
分类号
控制号
订购号
出版社
索书号
q=Microelectronic+test&searchType=standard&isFacet=true&view=standard&rows=10&sortWay=score&sortOrder=desc&searchWay0=marc&logical0=AND
rows=10&searchWay0=marc&logical0=AND
名称:
描述:
公开/私有:
公开
私有
标题:
描述:
公开/私有:
公开
私有
检索词:
Microelectronic test
, 检索到: 5 条结果, 检索时间: 0.104 秒 , 排序选项:
匹配度
出版日期
主题词
题名
著者
索书号
题名拼音
借阅次数
续借次数
题名权重
正题名权重
卷册号
排序方式:
降序排列
升序排列
隐藏分类导航
|
隐藏趋势图
Microelectronic test
CADAL电子资源
集群图书馆
分类导航
T 工业技术
(5)
图书馆
辽宁省图书馆
(5)
显示更多..
馆藏地点
新馆外文
(3)
新馆自科
(1)
保存
(1)
中文过刊库
(1)
显示更多..
主题
microelectronics
(1)
reliability
(1)
微电子
(1)
微电子技术
(1)
测试
(1)
测试技术
(1)
显示更多..
著者
bender, emmanuel,
(1)
bensoussan, alain,
(1)
bernstein, joseph b.,
(1)
liu, sheng
(1)
liu, yong
(1)
沈森祖
(1)
沈森祖主著
(1)
集成电路测试技术中心
(1)
显示更多..
出版日期
1987
(1)
2009
(1)
显示更多..
文献类型
图书
(4)
期刊
(1)
显示更多..
语言种类
汉语
(2)
显示更多..
在馆
在馆
(5)
显示更多..
保存至书单:
创建新书单
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>
1.
微电子测试
订购中
著者:
集成电路测试技术中心
出版社:
该中心
出版日期: [1987]~97
文献类型:
期刊 , 索书号:
TN4
在馆信息
图书目录
内容简介
著者简介
2.
Reliability prediction for microelectronics /
订购中
著者:
Bensoussan
Alain
Bender
Emmanuel
出版社:
出版日期:
文献类型:
图书 , 索书号:
TN406/B531
在馆信息
图书目录
内容简介
著者简介
3.
Proceedings of the 1988 IEEE international conference on microelectronic test structures icmts.
订购中
著者:
出版社:
Long Beach Hyatt Regency,
出版日期: 1988.
文献类型:
图书 , 索书号:
TN407-53/I59
在馆信息
图书目录
内容简介
著者简介
4.
Modeling and simulation for microelectronic packaging assembly :: manufacturing, reliability and testing /
订购中
著者:
Liu
Yong.
出版社:
Chemical Industry Press,
出版日期: 2012.
文献类型:
图书 , 索书号:
TN405.94/L783
在馆信息
图书目录
内容简介
著者简介
5.
微电子计量测试技术
订购中
著者:
沈森祖
出版社:
西北工业大学出版社
出版日期: 2009
文献类型:
图书 , 索书号:
TN407/7
在馆信息
图书目录
内容简介
著者简介
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>