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	1.		Design-for-test :: for digital IC's and embedded core systems / 订购中著者: Alfred L. Crouch. 出版社: Prentice Hall, 出版日期: c1999. 文献类型: 图书 , 索书号: TN431.2/C952 在馆信息图书目录内容简介著者简介
	2.		数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计订购中著者: Alfred L. Crouch 出版社: 机械工业出版社出版日期: 2006 文献类型: 图书 , 索书号: TN431.2/81 在馆信息图书目录内容简介著者简介

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