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哈吉姆
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著者
(美)pradeep lall, michael g. pecht, edward b. hakim著
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刘汝军
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哈吉姆
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张德骏
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拉尔
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派特
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贾颖
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贾颖, 张德骏, 刘汝军译
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出版日期
2008
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文献类型
图书
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1.
温度对微电子和系统可靠性的影响
订购中
著者:
拉尔
派特
哈吉姆
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2008
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/86
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